在材料的分析方法中透射電鏡和掃描電鏡有什么區(qū)別

TEM原理是透射，用于分析物相或表面（倍率較高）。SEM原理是反射，用于分析表面和成分（如果有能譜的話）。

掃描電鏡主要是看樣品的表面形貌，最好是微米級的，效果比較好尤其是有色院做的比較好，可以放大三十萬倍，但是納米級的粉體最好不用掃描電鏡，應(yīng)該選擇透射電鏡，同時還可以做電子衍射高分辨率投射等，分析樣品的晶面與晶格。

檢測內(nèi)容：一般的TEM可以做形貌分析，物相分析，結(jié)構(gòu)及缺陷分析，以及判定晶體生長方式等等。SEM主要用于樣品的表面形貌分析（二次電子），成分分析（背散射電子），以及成分的點線面分析。對于帶有能譜或者其他成分分析附件的TEM也可以做成分分析。制樣方法：SEM的樣品要求很簡單，導電就行，不導電噴碳噴金噴銀讓他導電；TEM制備樣品很復(fù)雜，尤其是對接的樣品。新手嘛，做一個好的樣品，得至少半個月吧。能在這個時間內(nèi)完成的都是高手！還有……先說這么多！